一 、功能與結構特征概述

基本功能：SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺，是連接四探針測試主機，用來裝夾半導體粉末（含高分子粉末和金屬粉末等），進行壓力施加（壓片），并同步進行電阻率測試的裝置（以下簡稱測試臺）。是四端子法測試粉末電阻率的必備配套單元。
    基本組成：測試臺為粉末標準容器、電極、加壓機構、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。

配套與兼容：本測試臺兼容本公司所有臺式四探針測試儀器，電阻率的測試范圍則有所配四探針儀器決定。本測試臺也可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。

優勢特征：測試臺設計符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關國標和行業標準。采用國際通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電極同時和樣品接觸），可以消除電極與連接導線導通電阻產生的誤差，克服了傳統的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性也好。

壓力機構采用手動操作，壓力（壓強）平穩可調、可保持。電子數碼檢測、顯示壓力（壓強）值，同步檢測樣本高度。故本測試臺可一邊加壓一邊同步測試電阻率，可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓力”的性能曲線；也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關參數！

本儀器具有測量精度高，操作簡便、穩定性好，重復性好，一機多用使用方便等特點。也是區別于以往舊款同類測試臺新特點！ 本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態和粉態樣品質量的一種重要優良工具。
二、主要技術指標：

A“SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺”參數

1、 試樣粒度：推薦40目以下（標準篩網）

2、 試樣容器：內徑：Φ11.28mm（S=1.0cm²）

高度：0～20mm可調,帶高度尺監測，測量誤差：±0.02mm。
3、測試壓強

標準壓強：P₀=4Mpa±0.05Mpa，合壓力40kg±0.5 kg(S=1.0cm²)。
   壓強量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可調，合壓力0～200Kg,(S=1.0cm²)
4、壓力機構采用手動操作、壓力平穩可調/可保持。

電子數碼顯示壓力值！四位有效顯示數0～200Kg，分別率±0.1 kg！

5、測試臺外形：250mm（前寬）×220 mm（后長）×540mm（總高）
       重      量：10Kg

B  電阻率注測量范圍(由配置的四探針測試儀主機確定)，

以配常規ST2258A四探針測試儀為例如右圖：
1、測量范圍：

電阻率：    10^-4～200X10³Ω-cm
測量誤差±（0.3%讀數+2字）

2、測量電壓量程： 200 mV
     測量精度±（0.3%讀數+2字）
  3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。

⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA, 1000mA

⑶誤差：±0.5%讀數±2 字
4、顯示方式3 1/2數量字顯示電阻、電阻率, 單位、小數點自動顯示。
5、電源：220±10% 50Hz-60Hz,  功率消耗<15W

6、外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm

凈   重：≤1.5～2.0kg

 以配ST2254或ST2255超高阻微電流測試儀做配套則上限可到10¹²或10¹⁶，,