博曼臺式膜厚測試儀，是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。　　
博曼臺式膜厚測試儀的綜合性能有:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
博曼臺式膜厚測試儀的優勢有:
1.高性能、高精度、長期穩定性、快速精確的分析帶來生產成本最優化，精確測定元素厚度，優化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅固耐用的設計：可靠近生產線或在實驗室操作，生產人員易于使用.
3.簡單的校準調試：在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認證標準片以確保最佳精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025），預置了多種校準參數.
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