博曼半導(dǎo)體膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。
博曼膜厚測試儀的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的
輻射強(qiáng)度.
博曼膜厚測試儀專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析�？梢詣偃螠y量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu).
具有強(qiáng)大功能的X-射線 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。
鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量，我公司是博曼（bowman）儀器的大陸代理商，專業(yè)銷售：復(fù)合鍍層測厚儀、X射線元素分析儀、線路板銅厚測量儀、合金分析儀、產(chǎn)品RoHS檢測儀，鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量儀.
bowman膜厚測試儀優(yōu)勢有:
1.高性能、高精度、長期穩(wěn)定性、快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本最優(yōu)化，精確測定元素厚度，優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)：可靠近生產(chǎn)線或在實(shí)驗(yàn)室操作，生產(chǎn)人員易于使用.
3.簡單的校準(zhǔn)調(diào)試：bowman膜厚測試儀在沒有標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片以確保最佳精確度（A2LA和ISO/IEC17025），預(yù)置了多種校準(zhǔn)參數(shù).
博曼膜厚測試儀特點(diǎn)：
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
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