菲希爾（FISCHER）膜厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。 它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測量。在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請來電咨詢希望我們能成為長期的合作伙伴。                 聯(lián)系人：鄧生：13826519947地址：寶安區(qū)沙井新橋洋下大道8號凱悅大廈1704